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CPO 測試:光引擎為什麼難測

可插拔、NPO、CPO 差在哪,CPO 的測試為什麼比光模組難得多,四道測試關各在測什麼、誰在做。

光引擎以前插在交換器面板上,壞了拔掉換;現在被封進交換晶片的同一個封裝裡,焊死、不能重工。這件事把整條測試邏輯翻過來:每一顆光引擎在跟昂貴晶片結合之前,都要先證明是良品。本頁用可以點的圖講清楚,再列出每一關背後的公司。

最後更新日:2026 年 11 月 1 日
股票代號:台股四碼/海外為交易所代碼
性質:個人研究整理,非投資建議
×32
一顆交換晶片旁 32 顆光引擎,要同時全對
100 秒 vs 1 秒
測一顆光引擎,比測一顆晶片慢一個數量級
100 → 30
三道製程關相乘,做 100 顆只能出 30 顆(法人估)

01 — PLUGGABLE / NPO / CPO

可插拔、NPO、CPO:光引擎放哪裡,決定怎麼測

交換器的工作是把電訊號變成光、送進光纖。三種做法的差別只有一件事:負責光電轉換的那顆東西(光模組或光引擎)離交換晶片多遠。越遠越耗電,越近越省電,但壞了越難換。點圖中任一列看說明。

可插拔光模組、NPO 近封裝光學、CPO 共封裝光學三種架構:光引擎離交換晶片的距離由遠到近 交換晶片藍線=電訊號 金線=光纖前面板 可插拔光在面板・壞了換 ASIC 光模組 NPO光搬到板上・還能換 ASIC 光引擎 CPO光封進晶片・不能換 ASIC 光引擎 越靠近 → 越省電 → 但越換不了 → 測試得越早、越嚴
圖 1|三種放法只差「光引擎離晶片多遠」。可插拔壞了換一顆;NPO 還能換;CPO 壞一顆,整顆封裝報廢。
面向可插拔 PluggableNPO 近封裝光學CPO 共封裝光學
光電轉換在哪前面板上的光模組同一塊板子、靠近晶片,用插座跟交換晶片同一個封裝
電訊號走多遠十幾公分幾公分毫米
功耗高中最低(輝達稱比可插拔省約 3.5 倍,公司宣稱、未附基準)
壞了怎麼辦拔掉換,損失幾百到上千美元仍可換焊死、不可重工,整顆封裝報廢
測試重心出廠前做最終測試就夠可換,但客戶仍要「已知良品光引擎」封裝前每顆都要證明是良品:四道關全測
誰在走現役主流,800G → 1.6T多數 CSP 的近中期過渡方案輝達 Spectrum-X/Quantum-X Photonics、博通 Tomahawk 6 Davisson

一句話記:可插拔=光在面板、壞了換;NPO=光搬到板上靠近晶片、還能換;CPO=光封進晶片的封裝裡、不能換。測試強度跟「能不能換」成反比。

為什麼一直提 NVIDIA Spectrum-X Photonics

它是第一個進入量產的 CPO 交換器。2025 年 3 月 GTC 發表,用台積電 COUPE 把光引擎封在 Spectrum-6 交換晶片旁,前面板不再插光模組,只剩光纖接頭與可拔換的外置雷射(ELS)。規格:單顆 Spectrum-6 交換晶片 102.4 Tb/s;SN6810 為 128 埠 × 800 Gb/s;SN6800 把四顆晶片併在一台,512 埠 × 800 Gb/s、409.6 Tb/s,液冷。InfiniBand 版叫 Quantum-X Photonics(144 埠 × 800 Gb/s)。

對測試的意思:法人依架構整理,每顆 Spectrum-X 交換晶片配 32 顆光引擎、Quantum-X 配 18 顆(輝達未公布)。 32 顆跟一顆交換晶片封在一起,任何一顆壞,整顆封裝都在風險裡——這是「全測」與「良率疊乘」的物理根源。輝達 2026 年 10 月柏林 GTC 稱 Spectrum-X Photonics 已量產,並與矽品擴建光引擎產能,2027 年中擴 15 倍、2028 年底前再翻倍。

FULL MAP — 完整版地圖

這篇講的是光引擎怎麼測;它旁邊那顆晶片怎麼封起來,在完整地圖

CPO 把光引擎封進交換晶片的封裝裡,測試因此變難。那顆封裝本身——先進封裝那一層——CoWoS、CoPoS、FOPLP、CoWoP、TGV/玻璃基板、EFB、晶背供電七個族群——在《AI 晶片|先進封裝地圖》:七張可點的圖、關係圖與全部公司卡。留下 Email,確認後直接打開。

Email 僅用於寄送地圖與更新通知,隨時可退訂。詳見隱私說明。

02 — WHY IT IS HARD

CPO 的測試為什麼複雜:先看一顆光引擎的剖面

根子不在光學儀器,而在一個事實:光引擎從「可換」變「不可換」。先點開剖面看電和光各從哪裡進出,四個原因就都在圖上。

光引擎剖面:探針從上方扎電子晶片 EIC,光纖從下方對光子晶片 PIC,整顆與交換晶片共用同一片封裝基板 一顆光引擎的剖面(概念圖,層厚不成比例) 探針卡 → ATE・上面測電 EIC 電子晶片・驅動與放大 SoIC 混合鍵合層 PIC 光子晶片・調變與收光 微透鏡+FAU 光纖・下面測光 同一個封裝基板・不可重工 交換晶片幾百~上千瓦 光纖轉 90° → 前面板 金=光引擎/光路 藍=電子晶片/電訊號 灰=基板 橘=鍵合層
圖 2|「上電下光」:電從上面進出、光從下面進出,所以 CPO 測試機得同時做兩件以前分開做的事。點任一層看它在測什麼、誰做設備。

① 不可重工

以前壞了拔掉換;現在幾十顆光引擎跟交換晶片封在一起,一顆壞、整顆報廢。所以每一顆結合前都要先證明是良品。

② 上面測電、下面測光

電從上面的 EIC 進出,光從下面的 PIC 出去。探針從上面扎、光纖從下面對,兩套系統要同步動作。

③ 9 μm 的光要進 1 μm 的洞

光纖纖芯約 9 μm、晶片波導不到 1 μm,對位要到次微米,靠多軸主動對準加光功率回授。

④ 一顆要測超過 100 秒

多通道 × 多波長逐一掃,還要高低溫;一般晶片秒級,差一個數量級。測試時間直接決定要買幾台機器。

良率是疊乘的:為什麼「做 100 顆只能出 30 顆」

同一顆封裝裡 32 顆要「同時」都好(示意算式)

單顆光引擎良率99.9%99%98%95%
32 顆全好的機率(^32)96.8%72.5%52.4%19.4%

單顆 99% 聽起來很好,32 顆一起封,四分之一的封裝會壞。所以每顆光引擎都要是 KGOE,而且要「近 100%」。假設各顆獨立、32 顆為法人整理數字,不是任何公司的實際良率。

三道製程關相乘:產出 ≠ 可出貨

可出貨 = 產出 × 門①光子晶片產出率 × 門②混合鍵合良率 × 門③下游組裝(FAU 耦合、封裝)良率。三關各九成只剩七成,各七成只剩三成。

法人估(先探投資週刊引摩根士丹利供應鏈追蹤,經濟日報、中時 10 月報導):今年台積電光引擎總產量預估可望達 6,000 萬顆,整體產出率約三成,實際可出貨約 1,700~1,800 萬顆。 這是估計、不是台積電公布;「6,000 萬」是產出口徑、「1,700 萬」是出貨口徑。

另一組:大摩 6 月估 SoIC 良率 50~60%、下游組裝良率僅 20~50%,2027 年光引擎出貨 600~700 萬顆(市場當時預期 2,000~3,000 萬)。 口徑與時點不同,引用時標年份。

03 — FOUR TEST STATIONS

四道關:測試站 1 到 4,越往後壞一顆越貴

業界把 CPO 的測試切成四個「插入點」,對應光引擎從晶圓到封進交換器的四個階段。記住一個原則就夠:越往後,每壞一顆的代價越高,所以越要在前面測乾淨。點任一關看它測什麼、誰做。

CPO 四道測試關:測試站 1 PIC 晶圓測試、測試站 2 鍵合後雙面光電同測、測試站 3 光引擎測試、測試站 4 封裝後最終測試 鍵合切割封裝 測試站 0/1 PIC 晶圓測試 測試站 2 鍵合後 光電同測 測試站 3 光引擎 OE 測試 測試站 4 封裝後 最終測試 ↑ 進站 3 之前:耦光貼合 壞一顆的代價 → 一顆裸晶 一組 EIC+PIC 一顆光引擎+FAU 整顆封裝(數萬美元) 四關之外另有老化測試 burn-in:高溫高壓跑一段時間,提早篩掉會早夭的個體
圖 3|測試站 1 壞的是一顆裸晶,測試站 4 壞的是整顆跟交換晶片封在一起的封裝。所以業界寧可在前段多測。

四個測試站,一站一段話、一張圖(每一塊都可以點)

測試站 0/1|PIC 晶圓測試

還沒切割、整片光子晶圓的時候就先測。探針從上面扎電、光纖探頭從上面對光,一顆一顆量光功率、損耗、波長,把壞的晶粒先標出來,後面才不會把壞 PIC 貼到好 EIC 上。這是最花時間的一站:逐通道、逐波長掃,一顆可能超過 100 秒。

測試站 0/1 PIC 晶圓測試 ATE 自動測試機 探針卡・上方扎電 光纖探頭・上方 PIC 晶圓・切割前 載台 單面:光+電都從上面來 挑出壞晶粒(KGD)・最花時間的一站
圖 4|整片晶圓先挑壞的。光和電都從上面來,所以用一般探針台加光纖探頭就能做,但逐顆掃波長、掃通道,一顆可能超過 100 秒。

測試站 2|鍵合後 光電同測

EIC 已經疊到 PIC 上(SoIC 鍵合),但還沒切割。這時要「給電、看光」:探針從晶圓頂面扎電,光纖從底面穿過載台的開窗對光,確認鍵合沒把光路或電路弄壞。兩套系統要同步對位、同步動作,是公認最難、最貴的一站,已有客戶在評估跳過。

測試站 2 鍵合後 光電同測 探針卡・上方扎電 EIC 電子晶片(上)PIC 光子晶片(下) 載台開窗載台 光纖・下方對光 雙面:上測電・下測光・同步
圖 5|公認最難的一關:晶圓頂面扎電、底面對光,載台要開窗、兩套系統要同步。有客戶在評估跳過這站、把壓力推到站 3。

測試站 3|光引擎 OE 測試

切下來、接上微透鏡與光纖陣列(FAU)之後,一顆完整的光引擎放上測試座,吃真正的高速電訊號、從光纖讀光,在高低溫下量插損、眼圖、S 參數。這是最後一個「丟了還划算」的地方,產出已知良品引擎(KGOE);台廠訂單最具體的一站。

測試站 3 光引擎 OE 測試 200G/通道 電訊號 EICPIC FAU 測試座 高低溫腔體 逐顆:插損・眼圖・S 參數 目的:已知良品引擎(KGOE) 耦光貼合歪了,在這一站被抓出來
圖 6|最後一個「丟了還划算」的地方:過了這關就要跟數萬美元的交換晶片封在一起。台廠訂單最具體的一站。

測試站 4|封裝後 最終測試

光引擎已經跟交換晶片封成一顆,放進分選機做最後驗證:光的部分用光纖迴路「一埠進、一埠出」(4O),電的部分跑真實速率量誤碼率(4E),還要高低溫。只有這裡能驗「整體」,但壞了就是整顆封裝報廢,所以前三站就是為了讓這站幾乎不出事。

測試站 4 封裝後 最終測試 分選機 Handler・高低溫 交換晶片同一封裝・不可重工 4O 光進光出 4E 誤碼率 BER 壞了 = 整顆封裝報廢(數萬美元)
圖 7|只有這裡能驗「整體」;但壞了就是整顆報廢,所以前三站就是為了讓這站幾乎不出事。
問題答案依據
最難測測試站 2 鍵合後雙面光電同測先探(引供應鏈):「最困難的一個階段」;旺矽:市場上僅旺矽與一家德國廠商進入客戶驗證;致茂 10/29:有客戶討論省略此站、壓力推到 測試站 3
最花時間測試站 1 PIC 級完整光學測試TrendForce 10/13:單顆 PIC 完整測試可能超過 100 秒;對位已到秒級
良率掉最多下游組裝(FAU 耦合、封裝)→ 在 測試站 3 被抓出來大摩 6 月:下游組裝良率 20~50%、SoIC 50~60%
報廢最貴測試站 4 封裝後先探:「測試站 4 報廢成本最高」;ficonTEC 舉例四關失效成本 1→10→100→1,000 倍

一個值得盯的訊號:致茂 10/29 法說被問到「市場討論部分流程可能省略第二站」,公司回答若客戶這麼做,第三站光引擎測試的機台需求反而會增加。這透露 測試站 2 確實難、貴、慢,有客戶在評估繞過;繞過的代價是把壓力往 測試站 3 推。旺矽的 測試站 2 也還在客戶驗證、測試站 3 先走——跟這個訊號一致。

04 — COMPANIES

公司卡

每家一張:市場、站在哪一關、角色、查證過的事實與風險,每檔只寫一手來源那一句。上方兩列標籤可以只看某一關或某一個市場(可疊加);從示意圖點進來的公司會亮框。

市場

市場標籤:台股 台灣上市櫃/興櫃(四碼) 美股 美國交易所  東京(.T) 其他 深圳、香港。角色色標:核心 直接做 CPO 測試或耦光設備,有公司一手說法 認證中 有方案、客戶驗證中或營收未揭露 鄰段 介面、分選、驗證、封測 製造端 做光引擎的人

測試設備:四道關的主角

致茂、旺矽、鴻勁、光焱、漢測

致茂

台股2360
測試站 1~3測試站 4O 光進光出測試站 4E BER老化測試
角色核心卡位四關都有訂單,測試站 3 規模最大
事實
4/30 法說:測試站 1、2、3 均已取得採購訂單;測試站 4O「光訊號進出測試」已 100% 取得訂單,測試站 4E(BER)6 月啟動試產。10/29 法說:前三季光電業務營收年增約四倍;已接獲明年第 1 季 CPO 量產設備訂單,客戶年底完成試產後放量;依客戶規畫,明年 測試站 3 量產設備數量至少是今年試產期的四至五倍;美系 Marvell 已通知明年啟動試產、第 4 季轉量產。
訊號
若客戶流程省略 測試站 2,測試站 3 機台拉貨需求反而增加(公司說法)。這是全頁最具體的檢查點。
風險
今年測試儀器與自動測試系統六至七成與 AI 電源相關,CPO 仍是新業務;單顆測試時間若從 100 秒級大幅縮短,機台需求量會下修。

旺矽

台股6223
測試站 1 探針台測試站 2 雙面光電(驗證中)測試站 3 工程機
角色核心卡位探針卡+光學對準,資源集中 測試站 2、3
事實
鉅亨 9/8 引 The Elec:FormFactor 與旺矽的探針台均通過台積電 CPO 測試設備認證(原文「兩家均通過」,未稱唯二)。Q1 法說:已具備 測試站 1、2、3 方案;測試站 2 市場上僅旺矽與一家德國廠商進入客戶驗證階段,結果原訂第 3 季底、第 4 季初較明確;測試站 3 第 4 季開始出貨工程驗證機給晶圓代工、封測、IC 設計客戶,2027 年上半年量產;湖口新廠規畫 CPO 設備量產。
法人
測試站 3 工程機客戶數,外資報告寫 4~5 家、本土法人寫 3~4 家,本頁寫「數家國際客戶」;高盛估 CPO 業務 2027、2028 年分別占營收中個位數、高個位數。
風險
測試站 2 驗證結果截至 10/31 未見公司公告,Q3 法說日期待核;若客戶普遍跳過 測試站 2,旺矽押最重的一站會縮水。

鴻勁

台股7769
測試站 4 OE 光電同測分選機 Handler溫控
角色核心卡位封裝後最終測試的分選與溫控
事實
4/8 公告:已出貨數百台 CPO 交換晶片的 FT(純電)測試機台;與客戶共同開發 測試站 4 CPO switch,偕同 Advantest/Teradyne 開發光電同測 FT 機台。8/2(鉅亨):與美系大客戶合作的 測試站 4 OE 光電同測設備已完成技術驗證,10 月起出貨,客戶正式量產後每月可交付 20~30 台;設備陸續送往以色列、台灣、美國實驗室。Q1 法說:測試站 1、2 屬晶圓級不參與,測試站 3 待 測試站 4 成熟後可整合儀器提供。
法人
國泰證期 10/18:測試站 4 是從「單體功能驗證」走向「系統級出貨驗證」的最後一關,點名致茂與鴻勁。
風險
光學對位加電測時間長、單機 UPH 不高,營收要靠機台數量堆;CPO 占整體營收比重公司未單獨揭露。

光焱科技

台股7728
測試站 0/1 晶圓級光缺陷檢測NightJar 高光譜影像
角色核心卡位探針還沒扎之前,用影像先挑壞晶粒
事實
NightJar 外掛在探針台上,以高光譜影像定位、定量 PIC 晶圓的漏光;量產機型 NightJar-H 已完成開發、與國際一線大廠完成 PoT 驗證,HVM 量產驗證預計今年底完成;與宜特合作一站式矽光子檢測平台;前 8 月矽光子營收占比 17.2%(去年 4.2%);新廠年底動工。
法人
高盛 SEMICON 報告(TechNews 9/9 轉述):可揭示 AWG 光損耗路徑,讓客戶在 測試站 1 甚至 測試站 0 完成 KGD。
風險
設備能否通過 HVM 評估是接下來最重要的驗證;營收規模小、業務集中。

漢測(漢民測試系統)

台股7856
測試站 1 自有方案測試站 2/3 與 ficonTEC 合作薄膜探針卡
角色認證中卡位工程服務先行、設備 ODM 跟進
事實
9/22 由興櫃轉上櫃。公司:測試站 1 已建立自有測試方案;測試站 2、3 由工程團隊協助合作夥伴與客戶優化設備與流程,並與德國 ficonTEC 合作;矽光子目前已有小量營收(列工程服務),預計明年開始有設備營收。
風險
設備出貨量取決於客戶驗證與產能,公司尚未納入明確營收預測;掛牌後市場關注度高,實際出貨量才是驗證。

耦光貼合:測試之前把 FAU 對準貼上

高明鐵、惠特、萬潤

高明鐵

台股(興櫃)4573
多軸耦光對位模組FAU+MLA 精密組裝CPO/NPO 耦合測試
角色核心卡位對位模組供應商,設備廠多與它合作
事實
TrendForce 10/13 點名:提供多軸控制的耦光對位模組。公司:通過全球前十大光通訊品牌廠認證,取得 800G 與 1.6T 耦光對位訂單;第 3 季營收 6.51 億元、季增 44%、年增 3.24 倍,單季超越 2025 全年 6.03 億元;上半年光通訊占比 79%;規畫明年第 2 季申請轉上櫃、明年底前掛牌。
風險
興櫃股流動性請自行留意;現在營收主要來自可插拔光模組的耦光工站,CPO 是下一步;2025 年仍虧損,今年才轉盈。

惠特

台股6706
主動式耦光貼合機矽光子單晶點測機(KGD)
角色核心卡位耦光貼合+切下來後逐顆篩
事實
公司新聞稿(工商 8/31、9/2):耦光貼合機應用於 CPO/NPO、支援 1.6T/3.2T;單晶點測機整合光學、電性、高頻、高低溫測試,封裝前完成晶粒篩選建立 KGD。工商 10/22:PIC 與光型檢測設備處於驗證、小量、出貨導入等不同階段。
風險
CPO 相關營收占比未單獨揭露;主業仍是 LED/光電檢測。

萬潤

台股6187
自動光耦合機FAU 對 EIC/PIC 對準
角色認證中卡位從 CoWoS 設備延伸到光耦合
事實
8/27 法說:已開發自動光耦合機,與客戶製程合作,形容 CPO「從無到有」。大摩 6 月、4 月報告均列入 CPO 測試相關名單。
風險
CPO 營收未揭露;法人普遍看 2026 貢獻有限、2027 起放大。

介面、第三方驗證、封測、製造端

穎崴、閎康、宜特、汎銓、日月光投控、台積電

穎崴

台股6515
測試介面探針卡、測試座
角色鄰段卡位測試站 3/4 的接觸介面
事實
TrendForce 10/13:穎崴提供測試介面。前三季營收 110.6 億元,提前達成 2027 年目標並持續擴產。
風險
CPO 占比未揭露;主要動能仍是 AI 晶片測試介面。

閎康

台股3587
第三方驗證材料分析・失效分析
角色鄰段卡位服務型、非設備銷售
事實
TrendForce 10/13:汎銓、閎康、宜特等第三方測試機構藉光電量測、材料分析、失效分析、可靠度驗證加速客戶開發。
風險
量產驗證浪潮受惠程度依客戶案量而定,單筆金額小。

宜特

台股3289
第三方驗證與光焱合作檢測平台
角色鄰段卡位可靠度驗證+蒐集客戶痛點
事實
TrendForce 10/13 點名;光焱:與宜特合作打造一站式矽光子檢測平台,由宜特蒐集客戶需求、雙方開發 NightJar。
風險
同閎康:服務型,彈性大但天花板也小。

汎銓

台股6830
第三方驗證材料分析
角色鄰段卡位服務型
事實
TrendForce 10/13 點名三家第三方測試機構之一。
風險
CPO 專案占比未揭露。

日月光投控(含矽品)

台股3711
CPO 光引擎產能封裝銜接量產測試
角色鄰段卡位封測廠:測試站 4 的現場在這裡
事實
輝達 10/21 柏林 GTC:聯手矽品在台擴建 CPO 光引擎產能,2027 年中擴大 15 倍、2028 年底前再翻倍。TrendForce 10/13:封測業者可銜接封裝與量產測試。
風險
CPO 為眾多業務之一,占比小;擴產進度受光引擎良率牽動。

台積電

台股美股2330/TSM
COUPE 光引擎SoIC 混合鍵合PIC 晶圓
角色製造端卡位做光引擎的人,也是測試設備的認證者
事實
COUPE on substrate 的 CPO 方案預計 2026 年開始生產(公司 4 月說法);IEEE ECTC 2025 論文給出 COUPE 結構與耦合損耗 <1.2 dB 等數據;The Elec:FormFactor 與旺矽探針台通過台積電 CPO 測試設備認證。
法人
PIC 月產能 2026 第 2 季 1 萬片、第 4 季 1.5 萬片;今年光引擎總產量估 6,000 萬顆、可出貨 1,700~1,800 萬顆。
風險
良率三關相乘;CoWoS/SoIC 產能同時被 GPU、HPC 搶。

國際對照:台廠不是沒有對手

FormFactor、Teradyne、Advantest、ficonTEC

FormFactor

美股FORM
探針台光學對準
角色核心卡位與旺矽同為台積電認證探針台
事實
The Elec:與旺矽同為通過台積電 CPO 測試設備認證的探針台,三星採同款做 PIC 晶圓測試;與 Advantest 合推 V93000 Triton 光子測試系統(9 軸光學對準,2025/4)。

Teradyne

美股TER
ATEQuantifi PhotonicsPhoton 100
角色核心卡位ATE 大廠補光學量測
事實
2025/3 宣布收購 Quantifi Photonics 補強光學量測;與 ficonTEC 合推雙面晶圓探測量產系統;國泰證期:Photon 100 定位為矽光與 CPO 的光電自動化量產測試平台;鴻勁的光電同測 FT 機台與其合作開發。

Advantest 愛德萬

美股6857.T/ATEYY
V93000 Triton與 VIAVI、SENKO 整合
角色核心卡位既有 ATE 平台串光學儀器
事實
TrendForce 10/13 原文:以既有測試平台與軟體串接光學儀器,2026 年 9 月宣布與 VIAVI、SENKO 合作整合自動測試環境、光學量測與可拆卸光學介面,並於 ECOC 2026 展示 CPO 模組級模擬量產測試流程。

ficonTEC(羅博特科)

其他300757.SZ
雙面晶圓測試晶粒測試耦合封裝全流程
角色核心卡位台廠最直接的對手,也是合作夥伴
事實
德國光子自動化設備商,2025 年被中國羅博特科全資收購;ficonTEC 將 CPO 測試分為四道 測試站、舉例失效成本 1→10→100→1,000 倍;頂面 ATE 探針、底面光學對準的雙面晶圓測試對應 測試站 2;旺矽稱 測試站 2 僅旺矽與「一家德國廠商」進入客戶驗證;漢測與其合作 測試站 2/3。
法人
高盛 SEMICON 訪查:目標明年把晶圓級測試時間縮短 50~60%、晶粒級提升到 4 倍;未來一年出貨量超過過去 25 年累計的一半。
風險
地緣:美系客戶去中化採購傾向——這是台廠的缺口機會,也是對手的現實優勢。

名單口徑提醒:先探投資週刊 2427 期的結論是光電同測難度高,台廠「僅 3 家能吞下」——鴻勁、旺矽、致茂;TrendForce 10/13 點名的範圍多了高明鐵、穎崴、汎銓、閎康、宜特、日月光。兩份名單口徑不同,引用時標明是誰點名。沒放進卡的「用 6,000 萬當分母」的零組件股(上詮 3363、波若威 3163、光聖 6442、聯亞 3081)不在測試這一段,但它們的需求量直接取決於「分母是哪一層」——產出口徑還是可出貨口徑。

05 — WHAT TO WATCH

接下來的檢查點,以及別只看多

接下來的檢查點

  • 輝達 Q3 FY27 財報:11/17 下午 2 點(美西),台灣 11/18 清晨。官方 10/28 公告。看點:Spectrum-X Photonics 出貨描述、矽品擴產進度。
  • 致茂:明年第 1 季 CPO 量產設備訂單是否如期轉出貨;客戶年底完成試產;Marvell 明年試產。
  • 旺矽:測試站 2 客戶驗證結果(原訂第 3 季底、第 4 季初);測試站 3 工程機第 4 季出貨;Q3 法說日期截至 10/31 未見公告。
  • 鴻勁:測試站 4 OE 光電同測設備 10 月起出貨後,客戶是否進入量產(每月 20~30 台的量級)。
  • 光焱:NightJar-H 年底 HVM 驗證。
  • 博通 TH6 Davisson:2025/10/8 開始供貨(博通新聞稿);Arista 採用、系統 2026 第 4 季出貨。
  • TrendForce 時間表:2027 測試架構收斂年、2028 大規模量產驗證期;SemiAnalysis 則警告大規模採用可能延到 2029 年後,兩個時間表並陳。

四個會打亂節奏的變數

  • 瓶頸本身就是訂單,解掉了訂單就縮:測試慢代表要買更多機台;設備商正全力縮時間(ficonTEC 目標晶圓級 −50~60%、平台整合多站共享儀器),單顆從 100 秒降到 10 秒,機台需求可能大降。設備股吃的是擴產週期,不是結構性用量。
  • 2027 收斂會壓價格:現在每家流程不同、設備商有議價權;架構標準化後毛利可能下滑。
  • 客戶可能自己做或指定國際大廠:台積電、日月光有能力發展自有治具;輝達等大客戶也可能直接指定 Teradyne/Advantest/ficonTEC。台廠從「被點名」走到「拿大單」,看接下來一年的實際出貨。
  • 時程本身在漂:大摩 6 月把 2027 出貨砍到 600~700 萬顆,10 月的供應鏈追蹤又估今年可出貨 1,700~1,800 萬,前後口徑不同;力成說 GPU 級光引擎設計仍在變、成熟產品可能 2028 年底以後。良率一天不穩,放量就往後。

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